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半導體芯片檢測 TH/TR3000i

半導體芯片檢測 TH/TR3000i

簡要描述:半導體芯片檢測 TH/TR3000i
TH3000i配有2x14支吸嘴可提高機器的吞吐量高達60K(托盤至托盤),多功能分類吸嘴以及疊料檢測。
TR3000i - JEDEC盤 / 卷帶輸出2維,3維,球,無管腳檢測系統擁有2x14支吸嘴可提高機器的吞吐量高達60K(托盤至托盤)以及吞吐量25K(托盤至卷帶)。

產品型號:

所屬分類:ViTrox偉特 TR/TH3000i

更新時間:2023-02-23

廠商性質:其他

詳情介紹

視覺檢測:3維檢測, 管腳檢測, 錫球檢測, QFN檢測, POP頂部檢測, 二維碼檢測, 印字檢測, 表面檢測, 被動元件檢測, 六側顏色檢測

TH3000i產品介紹

一、吸嘴自動間距調整

自行編程吸嘴自動間距轉換以縮短設定時間。

二、多功能分類吸嘴

1x2沿Z方向吸嘴予更快速及可靠的封裝分類。

2x14吸嘴的最終封裝分類。

三、疊料檢測

雙排X光高度測量傳感器檢測托盤中的疊料。


TR3000i產品介紹

一、吸嘴自動間距調整

自行編程吸嘴自動間距轉換以縮短設定時間。

二、7支JEDEC盤至卷帶吸嘴

可提高機器的吞吐量高達25K(托盤至卷帶)

三、自動卷帶轉換功能

全電腦化調整卷帶范圍







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